主要的老化試驗(yàn)項(xiàng)目有：光老化、熱老化、濕熱老化、鹽霧老化、臭氧老化、高低溫循環(huán)?？蛻粼谶x購老化房做電子元器件老化試驗(yàn)時(shí)，可根據(jù)不同的要求設(shè)計(jì)規(guī)格，以滿足試驗(yàn)需求。通過試驗(yàn)程序檢杳出不良品或不良件，幫助客戶快速找出問題，提高電子元器件的產(chǎn)品可靠性。

溫度類老化試驗(yàn)參考以下試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 2423. 1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫（IEC60068-2-1-2007，IDT）

GB/T 2423. 2 -2008電工 電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫（IEC 60068-2-2-2007，IDT）

GB/T2423. 4-2008電工 電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）（IEC 60068-2-30 -2005，IDT）

各公司可根據(jù)產(chǎn)品性能和參考標(biāo)準(zhǔn)增加試驗(yàn)項(xiàng)目，以下是具體試驗(yàn)方法，僅供參考。

1. 將處于室溫的試品（各類電子器部件及產(chǎn)品），在不加包裝、不通電、“準(zhǔn)備使用”狀態(tài)下， 按其正常位置放入已調(diào)到規(guī)定試驗(yàn)溫度的老化房內(nèi)（被測(cè)產(chǎn)品尺寸重量小則選用恒溫恒濕試驗(yàn)箱）。

2. 被測(cè)樣品應(yīng)均勻擺放在高低溫老化試驗(yàn)箱內(nèi)，使老化房溫度調(diào)整到規(guī)定的試驗(yàn)溫度下，溫度達(dá)到穩(wěn)定。

3. 老化試驗(yàn)結(jié)束后的試品應(yīng)放在恢復(fù)的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下保持1h以上。然后，按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行外觀檢查及有關(guān)電氣、機(jī)械性能的檢測(cè)。

因產(chǎn)品不同，試驗(yàn)需求不同，老化試驗(yàn)項(xiàng)目也不同。昆山振弘有著豐富的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，擁有環(huán)境可靠性設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)及售后服務(wù)的隊(duì)伍，可根據(jù)客戶的需求提出相對(duì)應(yīng)的解決方案，主營冷熱沖擊試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、老化房、淋雨試驗(yàn)箱、振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)等等，歡迎來電進(jìn)行咨詢！