本設備適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB電路板IC、光通訊（如收發(fā)器transceiver高低溫測試、SFP光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進行IC特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。