高速低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于各類半導(dǎo)體芯片、光模塊高低溫測(cè)試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行IC特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。