主要技術參數(shù)

    型號

工作室（W×D×H)（mm）

外型（約）（W×D×H)(mm）

提籃作室（W×D×H)（mm）

GDCJ-100-3

450×450×500

1700×1250×1700

150×150×200

GDCJ-150-3

500×500×600

1750×1300×1800

200×200×300

GDCJ-225-3

500×600×750

1750×1400×1900

200×350×350

GDCJ-250-3

600×600×700

1850×1400×1900

300×300×350

GDCJ-408-3

600×800×850

1850×1500×1950

300×500×500

GDCJ-500-3

700×800×900

1950×1500×2000

400×500×500

GDCJ-800-3

800×1000×1000

2000×1700×2200

500×600×600

GDCJ-010-3

1000×1000×1000

2200×1700×2200

600×600×600

低溫室溫度范圍： RT～-70℃ 按要求定制

高溫室溫度范圍： RT～+200℃ 按要求定制

沖擊溫度范圍：-20℃~+160℃、-40℃~+160℃、-50℃~+160℃、-60℃~+160℃、-70℃~+160℃、-80℃~+160℃、-100℃~+160℃    可以按照要求選定沖擊溫度范圍

注：可以根據(jù)客戶要求，定制非標尺寸

產(chǎn)品特點

該沖擊試驗箱為待測品動態(tài)式冷﹑熱交替沖擊方式,該方法為現(xiàn)在的高低溫沖擊方式,廣泛使用于電子零組件測試,汽車零部件,半導體,電子線路板,金屬化學,材料等測試設備.試驗箱有三箱結構，分為高溫區(qū)，低溫區(qū)，常溫區(qū)，常溫區(qū)即產(chǎn)品測試區(qū)，通過高溫區(qū)和低溫區(qū)的風門控制切換沖擊溫度。

符合標準

1.GB/T2423.22-93試驗Na 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度沖擊試驗

2.GJB360.7-87溫度沖擊試驗方法

3.GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗方法

4.GJB150.5-1986溫度沖擊試驗

主要性能參數(shù)

溫度偏差

≤±2.0℃(空載)

溫度波動

≤±0.5℃(空載)

試樣放置方式

動態(tài)（產(chǎn)品移動式）

降溫時間

RT～-70℃約50分鐘(空載)

升溫時間

RT～+200℃約50分鐘(空載)

溫度回復時間

≤5min

溫度轉(zhuǎn)化時間

≤5s

試樣移動方式

氣動

控制系統(tǒng)

顯 示 器

7寸真彩觸摸屏控制儀表，操作簡單，設定方便，控溫精度0.01℃，超出1200段編程

運行方式

程序或定值兩種控制方式自由轉(zhuǎn)換