小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱 為靜態(tài)風(fēng)路切換結(jié)構(gòu)，樣品放置中間試驗(yàn)區(qū)全程不動(dòng)，避免吊籃移動(dòng)帶來(lái)的振動(dòng)干擾。支持高溫、低溫、常溫三段沖擊，滿(mǎn)足GB、IEC、JESD、車(chē)規(guī)電子溫度沖擊測(cè)試。用來(lái)快速篩選PCB、連接器、LED、傳感器、芯片等產(chǎn)品，排查冷熱驟變下脫焊、開(kāi)裂、功能失效等隱性缺陷。適合研發(fā)實(shí)驗(yàn)室、來(lái)料可靠性驗(yàn)證。如果樣品體積大或者預(yù)算有限、樣品不怕振動(dòng)，可以推薦兩箱機(jī)型。

產(chǎn)品名稱(chēng)：三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱  （風(fēng)冷式）

型號(hào)：3AP-CJ-27A

內(nèi)容積：27L

內(nèi)箱尺寸：300 *300 *300mm   　 (W* H *D)

外型尺寸(約)1200*1800*1700mm     (W* H *D)具體以實(shí)際尺寸為為準(zhǔn)

測(cè)試室溫度范圍：-40℃～+150 ℃ (風(fēng)冷式)

低溫沖擊范圍：-10℃～-40 ℃  （任意可調(diào)）

高溫沖擊范圍：60℃～150 ℃   （任意可調(diào)）

預(yù)熱溫度范圍：RT～+165℃

升溫時(shí)間：+50℃→+165℃ ≤40min注：升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

預(yù)冷溫度范圍：RT～-55℃

降溫時(shí)間：+20℃ → -55℃≤約60min注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱PCB基板經(jīng)過(guò)數(shù)百次高低溫沖擊測(cè)試后，可排查銅箔分層、線(xiàn)路斷裂、阻焊層脫落等隱性質(zhì)量問(wèn)題，保障電路板在復(fù)雜工況下的長(zhǎng)期運(yùn)行可靠性。除此之外，它還廣泛適配汽車(chē)配件、航空航天產(chǎn)品、金屬與高分子材料等多個(gè)行業(yè)的測(cè)試需求，既可以滿(mǎn)足GB/T2423、GJB150等國(guó)標(biāo)軍標(biāo)的合規(guī)性測(cè)試要求，也能作為研發(fā)階段的環(huán)境應(yīng)力篩選工具，提前剔除產(chǎn)品設(shè)計(jì)與生產(chǎn)環(huán)節(jié)的早期缺陷，最終幫助企業(yè)提升產(chǎn)品品質(zhì)、降低售后故障率。