高低溫低氣壓試驗(yàn)箱參數(shù)VTD系列

產(chǎn)品用途：

高低溫低氣壓試驗(yàn)箱適用于對(duì)電工、電子、機(jī)械以及其他產(chǎn)品、零部件、材料等進(jìn)行高溫、低溫、低氣壓試驗(yàn),模擬不同溫度，不同氣壓變化條件下產(chǎn)品的可靠性測(cè)試。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

?                              GB-2423.1-2008(IEC68-2-1)試驗(yàn) A:低溫試驗(yàn)方法。

?                              GB-2423.2-2008(IEC68-2-2)試驗(yàn) B:高溫試驗(yàn)方法。

?                              GJB360.8-2009(MIL-STD.202F)高溫壽命試驗(yàn)。

?                              GJBl50.3-2009(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。

?                              GJBl50.4-2009(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。

?                              GJB150.2-86 低氣壓（高度）試驗(yàn)

?                              GJB360A 方法105：低氣壓試驗(yàn)

?                              GB/T2423.21-1991 試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法

?                              GB/T2423.25 試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)

?                              GB/T2423.26試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)