芯片高低溫測(cè)試機(jī)主要為電子零件、工業(yè)材料、成品研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗(yàn)各環(huán)節(jié)的試驗(yàn)提供恒定濕熱,復(fù)雜高低溫交變等試驗(yàn)環(huán)境和試驗(yàn)條件。適用于:電子電器、通訊、化工、五金、橡膠、玩具、科研、航天、建材等各行業(yè)。
芯片高低溫測(cè)試機(jī)技術(shù)參數(shù):
溫度范圍:0~+150℃ / -20~+150℃ / -40~+150℃ / -70~+150℃
內(nèi)箱尺寸 :400×500×400 mm/500×500×400 mm/500×600×500 mm/600×850×800 mm/1000×1000×800 mm//1000×1000×1000 mm
系統(tǒng):平衡調(diào)溫調(diào)濕控制系統(tǒng)( BTHC系統(tǒng))
外殼材料:不銹鋼板
內(nèi)箱材料:SUS#304加厚耐熱耐寒不銹鋼板,一級(jí)光面板
保溫材料:高密度玻璃棉及高強(qiáng)度PU發(fā)泡絕緣材料
氣流方式:寬帶式強(qiáng)迫氣流循環(huán)(上出下進(jìn))
加熱系統(tǒng):全獨(dú)立系統(tǒng),鎳鉻合金電加熱式加熱器
制冷系統(tǒng):全封閉風(fēng)冷單級(jí)壓縮制冷方式 /法國“泰康”/全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式
循環(huán)系統(tǒng):耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪
控制系統(tǒng):可程式觸摸屏溫濕度控制器(韓國三元或日本OYO均可選擇)
標(biāo)準(zhǔn)配置:觀察窗1個(gè);測(cè)試孔60mm1個(gè);樣品架兩層;箱內(nèi)照明燈1個(gè);供水箱1個(gè);小腳輪4個(gè);電源線1條





























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