光學(xué)冷熱臺ck-1200

一、儀器用途：

光學(xué)冷熱臺是一款針對研究樣品變溫光學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。

產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進行變溫原位測試。根據(jù)需要，還可以選型光反射或光透射模式。

產(chǎn)品需要與溫度控制器、致冷控制器（選配）配套使用，配套的上位機控溫軟件方便進行溫度設(shè)置及采集，提供的Labview Vis方便客戶進行定制化編程。

二、儀器特點：

• 溫度范圍：-190~600℃ / RT~1200℃

• 溫度穩(wěn)定性：±0.1℃（＜600℃）±1℃（＞600℃）

• 支持反射/透射模式

• 氣密腔室，可通保護氣體

• 腔室可升級真空腔室（10^(-3)  mbar）

• 上位機軟件控制 支持改動或定制

三、儀器主要技術(shù)參數(shù)：