手機(jī)充電頭金屬件瑕疵快速檢測方案利用及深度學(xué)習(xí)檢測方法快速完成金屬件雙面瑕疵測量,具有高精度高效率、檢測范圍廣等優(yōu)勢。
設(shè)備概況:
· 設(shè)備尺寸: 900(W)*1800(L)*1400(H) mm
· CT: 1.2s/pcs ?
· 檢測手機(jī)充電器金屬頭部分的瑕疵
· 有自動(dòng)取料,自動(dòng)測量、自動(dòng)下料和分Bin功能
· 上料部分包括升降模組及移動(dòng)模組;測量部分由5個(gè)CCD構(gòu)成,對工件5個(gè)區(qū)域(正反面、兩側(cè)面以及一頂面)的瑕疵進(jìn)行檢測;下料部分分為OK區(qū)域和NG區(qū)域。
· 瑕疵檢測類型豐富:條形光用于檢測橫印,同軸光用于檢測點(diǎn)傷、發(fā)白、缺口,環(huán)形光用于檢測刮傷、亮印、臟污、側(cè)點(diǎn)傷等瑕疵。
技術(shù)特點(diǎn)
產(chǎn)品參數(shù)




















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