植物冠層分析儀是田間林地常用的用于檢測作物葉面積指數(shù)的農(nóng)業(yè)儀器，該儀器在設(shè)計(jì)之初就充分考慮到系統(tǒng)使用的便捷性和測量項(xiàng)目的多樣性，因此系統(tǒng)可以測量包括葉面積大小、葉片的生長情況、冠層結(jié)構(gòu)、葉片透光率等在內(nèi)的多項(xiàng)植物冠層數(shù)據(jù)。
儀器測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統(tǒng)，提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。植物冠層分析儀不需要等待特殊的天氣條件進(jìn)行使用，可以在大多數(shù)光照條件下進(jìn)行測量工作（但是較好是在接近中午的時(shí)候）。
作物葉面積指數(shù)(LAI)，表示地表單位面積內(nèi)植物光合組織單面面積的總和，葉面積指數(shù)定量地描述了群體水平上葉子的生長與葉密度間的變化關(guān)系，它對光能利用，干物質(zhì)積累，收獲量及經(jīng)濟(jì)效益都有顯著的影響，是作物模型和科學(xué)研究中的重要參數(shù)。葉面積指數(shù)觀測方法很多，主要分為直接測量法和間接測量法。傳統(tǒng)直接取樣測量法能較好反映該參數(shù)，但費(fèi)時(shí)費(fèi)力，且需要破壞性取樣，限制了該方法的大面積的田間使用。使用植物冠層分析儀可以解決這個難題，植物冠層分析儀可以依據(jù)入射到冠層頂部的太陽輻射衰減速率推算葉面積指數(shù)及冠層結(jié)構(gòu)，具有對葉片無損傷、對觀測對象可重復(fù)測量等特點(diǎn)。
但受田間因素影響，植物冠層分析儀測定的植物葉面積指數(shù)與傳統(tǒng)手測方法測定的葉面積指數(shù)有一定的差異。植物冠層分析儀的測量誤差有變化，認(rèn)為可能與非光合器官及枯黃葉片對光線的攔截所致。
綜述，植物冠層分析儀在分析葉面積指數(shù)的過程中有著的作用！如有產(chǎn)品咨詢或者更公司建議請及時(shí)！
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