植物冠層系統(tǒng)的測定一直以來都是個(gè)難題，費(fèi)時(shí)費(fèi)力，研究植物光合效率與其生長特點(diǎn)之間的關(guān)系也是難上加難，當(dāng)務(wù)之急，恒美科技推出了一款能夠精準(zhǔn)測定植物冠層系統(tǒng)的植物冠層分析儀，那這個(gè)植物生理儀器對(duì)測定植物數(shù)據(jù)有什么優(yōu)勢？下面聽恒美科技小編慢慢道來！
先來說說直接測量和間接測量都是如何進(jìn)行的。直接測量是通過想測定所有葉片的葉面積，再計(jì)算LAI，因要剪下全部待測葉片，多數(shù)屬于毀壞性測量，或至少會(huì)干擾冠層，葉片角度的分布，從而影響數(shù)據(jù)的質(zhì)量，直接測量費(fèi)時(shí)、費(fèi)力。間接測量就是利用冠層結(jié)構(gòu)與冠層內(nèi)輻射與環(huán)境的相互作用這一定量耦合關(guān)系，通過植物冠層分析儀來測定植物冠層的相關(guān)數(shù)據(jù)，通過植物冠層的轉(zhuǎn)移模型來推斷LAI。
植物冠層分析儀是通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。因此與直接測量法相比，采用植物冠層分析儀測量冠層數(shù)據(jù)，可以避免直接測量法所造成的大規(guī)模破壞植被的缺點(diǎn)，而且采用儀器進(jìn)行測量操作，具有方便快捷，不受時(shí)間限制，獲取數(shù)據(jù)量大等優(yōu)點(diǎn)，非常適合用于現(xiàn)代農(nóng)業(yè)科研研究當(dāng)中，因此目前植物冠層分析儀被廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、 植物群體對(duì)比與發(fā)展的 研究與教學(xué)工作當(dāng)中，并在實(shí)際工作中發(fā)揮了重要的作用。
綜上所述，在測定中，如果使用植物冠層分析儀等專業(yè)的測量儀器，不僅會(huì)讓研究工作更省心、效率更高，而且測定的數(shù)據(jù)結(jié)果也更加準(zhǔn)確，為農(nóng)業(yè)生產(chǎn)提供更加科學(xué)有效的依據(jù)。
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