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XAU-4C X熒光光譜分析儀全元素成分檢測(cè) 涂鍍層元素測(cè)量

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更新時(shí)間：2022-08-25 08:39:02瀏覽次數(shù)：489次

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福建赫鑫科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

性能優(yōu)勢(shì)：1.微小樣品檢測(cè)：最小測(cè)量面積0.03mm2（加長測(cè)量時(shí)間可小至0.01mm2）2.變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-30mm3.的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量

詳細(xì)介紹

性能優(yōu)勢(shì)：

1.微小樣品檢測(cè)：最小測(cè)量面積0.03mm2（加長測(cè)量時(shí)間可小至0.01mm2）

2.變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-30mm

3.的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量。

4.*的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。

5.高性能探測(cè)器：SDD硅漂移窗口面積25mm2探測(cè)器。

6.X射線裝置：微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦裝置。

核心的EFP算法

專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，多元迭代開發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合*的光路轉(zhuǎn)換的技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子，可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。