用途：該產(chǎn)品為電子元器件的安全性能測(cè)試提供了可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過(guò)此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性能并進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制