可程式恒溫恒濕測(cè)試箱圖片

2026-05-12 08:11:5540

參考價(jià):	面議

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面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

進(jìn)入商鋪在線詢價(jià)

圖片描述：

簡(jiǎn)單介紹：可程式恒溫恒濕測(cè)試箱特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。

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