DKMT200高性能科研級低溫拉伸原位測試儀圖片

2023-07-06 16:42:00197

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DKMT200/1000高性能科研級低溫拉伸原位測試儀1概述1.1技術(shù)背景原位測試（微觀力學(xué)測試+可視化監(jiān)測）：在微納米尺度下對試件材料進行力學(xué)性能測試，可集成普通顯微鏡、金相顯微鏡等成像設(shè)備對材料發(fā)生的微觀變形損傷

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