KaleoMultiWave光學(xué)元件面型測(cè)量?jī)x是一臺(tái)多波長(zhǎng)工作的光學(xué)元件面形測(cè)試系統(tǒng)，用于替代昂貴、低效、操作復(fù)雜的干涉儀，測(cè)量光學(xué)元件的表面面形、透過(guò)波差等參數(shù)。