介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)*技術(shù)：雙掃描技術(shù)-測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。雙測(cè)試要素