高低溫濕熱循環(huán)試驗(yàn)箱sce17用于模擬受試樣品用于高濕條件，失效模式為因潮濕引起的電氣故障，例如，印制電路板因潮濕產(chǎn)生的漏電流。附加失效模式為殼內(nèi)潮氣流動(dòng)的“呼吸”效應(yīng)，當(dāng)受試樣品殼內(nèi)空氣溫度下降時(shí)，外部