
SPECTRAN相位分析儀SPH-20
SPECTRAN相位分析儀SPH-20,相位分析儀設(shè)計(jì)用于測量有源和無源射頻和微波設(shè)備的相位特性。 該產(chǎn)品在開發(fā)、制造和出廠檢驗(yàn)過程中提供實(shí)驗(yàn)室和車間條件下的微波晶體管、功率放大器、移相器參數(shù)的控制和測量。 應(yīng)用 電信 測試和測量設(shè)備 研究實(shí)驗(yàn)室 特征 特征 頻率范圍0.2 ... 20 GHz 相移測量范圍,度-180° ... +180° 相移測量誤差,度± (1 + 0,1 F + 0,05 А), F – 頻率, GHz А – 傳輸比, dB 輸入功率10分貝 電源消耗< 300 瓦 工作溫度+5..+40°C 方面257 x 266 x 167 毫米 重量8.2 公斤 控制USB、LAN、SPI、并行




















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