一、產(chǎn)品介紹
OmniScan SX有兩種型號:SX PA和SX UT。
SX PA是一款16:64PR相控陣單元,與僅具有UT通道的SX UT一樣,也配備了一個常規(guī)UT通道,可以進行脈沖回波、一發(fā)一收或TOFD檢測。與OmniScan MX2相比,OmniScan SX重量輕33 %體積小50 %,更為輕巧便攜。
二、設置
可以在NDT SetupBuilder中為檢測進行設置,然后再通過SD卡或USB鑰匙,將設置直接導入到OmniScan SX儀器。進行采集之前,只需在儀器中進行幾項基本操作,如:設置閘門和范圍。由于OmniScan SX具有以下幾個特性,用戶也可以在儀器中非常方便地創(chuàng)建設置:
? 自動探頭識別
? 單步驟、預先配置應用的向?qū)?/span>
? 焊縫覆蓋與聲線跟蹤模擬
三、校準
為完成一項符合規(guī)范的檢測,儀器中的校準向?qū)Э梢允沟妹拷M中的每個聚焦法則都等同于一個單通道常規(guī)探傷儀。用戶在完成所要求的校準過程中,會得到向?qū)У姆植街笇?。所校準的項目包括聲速、楔塊延遲、靈敏度、TCG、DAC、AWS及編碼器?,F(xiàn)在,儀器可以自動完成TOFD PCS校準與直通波矯直的操作。
四、采集
在進行手動、單線或光柵編碼掃查時,OmniScan SX可以方便地對檢測參數(shù)進行配置。采集數(shù)據(jù)可以用戶選擇的視圖形式實時顯示在屏幕上,用戶還可以將數(shù)據(jù)存儲于具有熱插拔功能的SD卡或USB 2.0設備中。
五、優(yōu)勢
? 智能布局
? 全屏模式,可更好地顯示缺陷
? 可以使用不同的閘門組合對同步和測量進行處理數(shù)據(jù)分析和報告制作
? 數(shù)據(jù)光標、參考光標與測量光標用于缺陷的定量。
? 擴展的數(shù)據(jù)庫、預先定義的三角學參數(shù)列表、缺陷相對于軸的統(tǒng)計數(shù)據(jù)、體積位置信息、基于規(guī)范的合格標準、腐蝕成像的統(tǒng)計數(shù)據(jù)等等。
? 在進行離線閘門重新定位的操作中,視圖可被鏈接在一起,進行交互式分析和自動更新。
? 優(yōu)化的預置布局可對缺陷的長度、深度和高度進行快速方便的定量。
無論您想在計算機中完成數(shù)據(jù)分析,還是希望您的OmniScan儀器采集完數(shù)據(jù)后繼續(xù)在現(xiàn)場進行數(shù)據(jù)分析,OmniPC或TomoView都是理想的與OmniScan配套使用的軟件工具。
:達剛
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