技術(shù)參數(shù):
| 項(xiàng)目 | 參數(shù) | 項(xiàng)目 | 參數(shù) |
| 型號(hào) | HX-LCV100 | 供電 | 單項(xiàng)交流電/220V |
| 整機(jī)功率 | ≤8KW | 整機(jī)尺寸 | 1600X1200X1850 |
| 上下料 | 2/4寸華夫盒 | 上料臺(tái) | ±1μm |
| 相機(jī)移動(dòng) | ±1μm
| 目檢精度 | ≤1μm |
設(shè)備特點(diǎn):
1、設(shè)備具備COS熱沉ID自動(dòng)識(shí)別錄入功能。
2、具備芯片貼片傾斜角度檢驗(yàn)功能。
3、上、下料托盤(pán)可兼容不同尺寸規(guī)格的華夫盒,并且可以由設(shè)備軟件自由切換。
4、腔面檢查各種不良現(xiàn)象,檢出效果可通過(guò)設(shè)備學(xué)習(xí)逐步優(yōu)化。
5、COS正面和COS底部檢查范圍包括但不限于正面/底部外觀中存在的焊料異常、芯片N面破損、臟污、崩邊、劃痕、熱沉破損、熱沉ID異常、N面異常、電極脫膜等不良現(xiàn)象。
6、對(duì)于產(chǎn)品外觀檢查結(jié)果,將產(chǎn)品進(jìn)行自主判定等級(jí)分類,并可放置到指定位置,擺放位置可手動(dòng)調(diào)整。
7、四面綜合檢驗(yàn)效率≤10秒/COS。
8、在分選作業(yè)過(guò)程中實(shí)時(shí)記錄良率及生產(chǎn)狀況,可提供不良數(shù)量、位置分級(jí)報(bào)表,軟件功能支持檢測(cè)結(jié)果按指定要求格式進(jìn)行報(bào)表輸出。
9.、可選干冰清潔功能,可對(duì)檢出的cos臟污進(jìn)行清潔,且清潔參數(shù)可根據(jù)實(shí)際樣品情況調(diào)整。




















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