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熱流儀搭配Keysight進(jìn)行功率器件高低溫測(cè)試

高低溫沖擊氣流儀TS系列+TCU800P高溫?zé)崤_(tái)搭配是德B1500系列功率分析儀進(jìn)行功率器件高低溫測(cè)試。

設(shè)計(jì)人員現(xiàn)在可以使用TCU800P高低溫冷熱臺(tái)或TS系列高低溫沖擊氣流儀在-100℃ - +350℃寬溫度范圍內(nèi)對(duì) IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件自動(dòng)化熱測(cè)試解決方案。兩者都直接可與Keysight B1500系列集成，以限度地減少在將較長(zhǎng)電纜布線到外部溫度測(cè)試設(shè)備時(shí)引入的測(cè)量問(wèn)題。

TCU800P高低溫冷熱臺(tái)(RT至+250°C)和高低溫沖擊氣流儀(-70至+225°C)滿足高熱和極冷測(cè)試應(yīng)用的需求，實(shí)現(xiàn)對(duì)IGBTs 和MOSFETs 之類的power device 的溫度特性測(cè)試。

TS560高低溫沖擊氣流儀

ThermoTST TS560是—臺(tái)精密的高低溫沖擊氣流儀，具有更廣泛的溫度范圍-70℃到＋225℃，提供了溫度轉(zhuǎn)換測(cè)試能 力。溫度轉(zhuǎn)換從-50℃到+ 125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒 ；經(jīng)長(zhǎng)期的多工況驗(yàn)證，滿足各類生產(chǎn)環(huán)境和工程環(huán)境的要求。

熱流儀搭配Keysight進(jìn)行功率器件高低溫測(cè)試

TCU800P是—種突破性的產(chǎn)品， 每個(gè)系統(tǒng)包含可定制化的熱板（臺(tái)）和—個(gè)獨(dú)立的溫度控制單元；在RT至+250℃范圍內(nèi)提供穩(wěn)定且高精度的溫度環(huán)境。可用于Keysight B1505A 和B1506A（Power Device Analyzers）搭配測(cè)試的溫度控制平板，實(shí)現(xiàn)對(duì)IGBTs 和MOSFETs 之類的power device 的溫度特性測(cè)試。

TCU800P的熱板設(shè)計(jì)可安裝于Keysight B1505A 和B1506A功率分析儀測(cè)試腔內(nèi)，減少因?yàn)椴季€引起的測(cè)量問(wèn)題；通過(guò)優(yōu)化熱臺(tái)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，降低了傳統(tǒng)熱臺(tái)漏電流產(chǎn)生的電噪聲對(duì)測(cè)試結(jié)果影響。

TCU800P是—種突破性的產(chǎn)品， 每個(gè)系統(tǒng)包含可定制化的熱板（臺(tái)）和—個(gè)獨(dú)立的溫度控制單元；在RT至+250℃范圍內(nèi)提供穩(wěn)定且高精度的溫度環(huán)境?？捎糜贙eysight B1505A 和B1506A（Power Device Analyzers）搭配測(cè)試的溫度控制平板，實(shí)現(xiàn)對(duì)IGBTs 和MOSFETs 之類的power device 的溫度特性測(cè)試。

TCU800P的熱板設(shè)計(jì)可安裝于Keysight B1505A 和B1506A功率分析儀測(cè)試腔內(nèi)，減少因?yàn)椴季€引起的測(cè)量問(wèn)題；通過(guò)優(yōu)化熱臺(tái)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，降低了傳統(tǒng)熱臺(tái)漏電流產(chǎn)生的電噪聲對(duì)測(cè)試結(jié)果影響。

TCU800P是—種突破性的產(chǎn)品， 每個(gè)系統(tǒng)包含可定制化的熱板（臺(tái)）和—個(gè)獨(dú)立的溫度控制單元；在RT至+250℃范圍內(nèi)提供穩(wěn)定且高精度的溫度環(huán)境?？捎糜贙eysight B1505A 和B1506A（Power Device Analyzers）搭配測(cè)試的溫度控制平板，實(shí)現(xiàn)對(duì)IGBTs 和MOSFETs 之類的power device 的溫度特性測(cè)試。

TCU800P的熱板設(shè)計(jì)可安裝于Keysight B1505A 和B1506A功率分析儀測(cè)試腔內(nèi)，減少因?yàn)椴季€引起的測(cè)量問(wèn)題；通過(guò)優(yōu)化熱臺(tái)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，降低了傳統(tǒng)熱臺(tái)漏電流產(chǎn)生的電噪聲對(duì)測(cè)試結(jié)果影響。