產(chǎn)品描述

日本奧林巴斯 Olympus OmniScanSX探傷儀-----積累了20多年探索相控陣技術的經(jīng)驗，體現(xiàn)了OmniScan精華的探傷儀，Olympus不無自豪地為廣大用戶推出了新研制的OmniScanSX，這是一款積累了20多年探索相控陣技術的經(jīng)驗，體現(xiàn)了OmniScan精華的探傷儀。為了更加方便地使用儀器，OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無模塊儀器，針對檢測要求較低的應用，這款儀器操作為方便，性價比高。

新添功能如下： 導出C掃描 帶有組融合功能的新型端視圖 交錯功能 分析模式下的衰減增益 滾動布局，方便了判讀過程 提供更多交互式菜單，提高了訪問能力 得到了優(yōu)化的主菜單和向?qū)?/span> 機載復合扇掃功能 用于縱向焊縫檢測的曲面幾何形狀聲線跟蹤

OmniScan SX有兩種型號

SX PA和SX UT。SX PA是一款16:64PR相控陣單元，與僅具有UT通道的SX UT一樣，也配備了一個常規(guī)UT通道，可以進行脈沖回波、一發(fā)一收或TOFD檢測。與OmniScan MX2相比，OmniScan SX重量輕33 %，體積小50 %，具有OmniScan產(chǎn)品特別的更為輕巧便攜的性能。OmniScan SX觸摸屏配有全屏模式選項，使清晰度達到*大化，用戶僅需在觸摸屏上進行簡單操作，便可訪問許多菜單功能。直觀的界面使用戶可以流暢地進行菜單選擇，縮放，閘門調(diào)節(jié)，光標移動以及文本和數(shù)字的輸入。以上這些特性，加上其它附加的集成功能，包括淺顯易懂的設置和校準向?qū)В附莸腟掃描和A掃描顯示更新率，和快速的脈沖重復頻率（PRF），使OmniScan SX成為一款高效的檢測工具。OmniScan SX能與Olympus數(shù)量龐大的掃查器、探頭和附件產(chǎn)品，及其專門的配備軟件NDT SetupBuilder和OmniPC兼容。硬件和軟件產(chǎn)品的完整結合，使檢測流程從設計、設置到采集、分析變得精簡有效。

工作流程：

設置
可以在NDT SetupBuilder中為檢測進行設置，然后再通過SD卡或USB鑰匙，將設置直接導入到OmniScan SX儀器。 進行采集之前，只需在儀器中進行幾項基本操作，如：設置閘門和范圍。 由于OmniScan SX具有以下幾個特性，用戶也可以在儀器中非常方便地創(chuàng)建設置： 自動探頭識別 單步驟、預先配置應用的向?qū)?/span> 焊縫覆蓋與聲線跟蹤模擬

校準
為完成一項符合規(guī)范的檢測，儀器中的校準向?qū)Э梢员ＷC每組中的每個聚焦法則都直接等同于一個單通道常規(guī)探傷儀。 用戶在完成所要求的校準過程中，會得到向?qū)У姆植街笇А?/span> 所校準的項目包括聲速、楔塊延遲、靈敏度、TCG、DAC、AWS及編碼器。 現(xiàn)在，儀器可以自動完成TOFD PCS校準與直通波矯直的操作。

采集
在進行手動、單線或光柵編碼掃查時，OmniScan SX可以方便地對檢測參數(shù)進行配置。 采集數(shù)據(jù)可以用戶選擇的視圖形式實時顯示在屏幕上，用戶還可以將數(shù)據(jù)存儲于具有熱插拔功能的SD卡或USB 2.0設備中。 智能布局 全屏模式，可更好地顯示缺陷 可以使用不同的閘門組合對同步和測量進行處理

數(shù)據(jù)分析和報告制作
數(shù)據(jù)光標、參考光標與測量光標用于缺陷的定量。擴展的數(shù)據(jù)庫、預先定義的三角學參數(shù)列表、缺陷相對于軸的統(tǒng)計數(shù)據(jù)、體積位置信息、基于規(guī)范的合格標準、腐蝕成像的統(tǒng)計數(shù)據(jù)等等。在進行離線閘門重新定位的操作中，視圖可被鏈接在一起，進行交互式分析和自動更新。優(yōu)化的預置布局可對缺陷的長度、深度和高度進行快速方便的定量。無論您想在計算機中完成數(shù)據(jù)分析，還是希望您的OmniScan儀器采集完數(shù)據(jù)后繼續(xù)在現(xiàn)場進行數(shù)據(jù)分析，OmniPC或TomoView都是理想的與OmniScan配套使用的軟件工具。

Omniscan SX探傷儀應用

用途廣泛的新型Omniscan SX儀器的出現(xiàn)進一步壯大了Olympus業(yè)已齊備的創(chuàng)新型市場解決方案庫，開發(fā)所有這些解決方案的宗旨都是簡化檢測工作流程，從整體上提高生產(chǎn)效率。

相控陣焊縫檢測 OmniScan PA是Olympus公司為石油和天然氣工業(yè)開發(fā)的手動和半自動相控陣焊縫檢測解決方案的核心。 這些系統(tǒng)不僅可用于符合ASME、API及其它規(guī)范標準的檢測，而且還具有高速探測、便于缺陷指示判讀的特性。 腐蝕成像和復合材料檢測 隨著OmniScan SX的出現(xiàn)，零度檢測變得更為簡便易行。在腐蝕或復合材料的檢測應用中， Olympus可提供探測材料中異?，F(xiàn)象或壁厚損失的經(jīng)過實地驗證的解決方案。 TOFD焊縫檢測 在主要探測焊縫缺陷的應用中，TOFD是一種簡便易行、效率高的檢測方法。 這種方法不僅可以快速定量在焊縫體積中發(fā)現(xiàn)的缺陷（焊縫通常是制造缺陷高發(fā)的地帶），且其性價比高。 組件檢測 組件檢測利用超聲技術，可以探測到裂縫、壁厚減薄以及其它各種缺陷。OmniScan SX既可以使用角度聲束， 也可以使用線性零度聲束，因此成為完成這類單組檢測應用的一個性價比高的解決方案。